ADVANTEST Q8344A 跨域频谱分析仪
概述
相干测量
1.5 秒/扫描的高速测量
0.35 至 1.75 µm 的宽波长范围
波长测量精度为 0.1 nm
光学频谱分析仪
Q8344A 是一款光学频谱分析仪，具有 0.35 至 1.75 µm 的宽波长范围。通过使用迈克尔逊干涉仪的傅立叶光谱系统，可以分析使用单色仪的分散光谱系统无法获得的相干性。它展示了评估光盘和视频磁盘激光二极管的能力。内置 He-Ne 激光器用作参考波长，波长精度为 ± 0.1 nm (1.3 µm)，即使不进行波长校准，也能确保长期测量的稳定性。Q8344A 的最大波长分辨率为 0.05 nm（0.85 µm），适合测量模式间隔较窄的激光二极管。测量速度约为 1.5 秒（0.4 至 1.05 µm 和 0.8 至 1.75 µm），与分析跨度无关，因此可作为系统组件使用。Q8344A 具有多功能显示、分析和处理功能，可用于各种元件的特性测量应用，从激光二极管和 LED 等光发射元件到光纤和滤波器等光学元件。
相干性测量
由于 Q8344A 使用迈克尔逊干涉仪，因此可用于相干性测量。通过这一功能，可以轻松评估视频磁盘激光二极管回光引起的噪声抑制性能。分析范围约为±10 毫米，可以测量光纤陀螺使用的 SLD（超级发光二极管）的相干长度。
高速测量，1.5 秒/扫描，非常适合生产应用
Q8344A 采用傅立叶光谱系统，因此无论测量跨度和灵敏度如何，都能在 1.5 秒内完成测量（前提是起始波长为 0.4 µm 或更长，且测量不同时覆盖短波长和长波长）。因此，该分析仪适用于在生产线上测量激光二极管和发光二极管。此外，还可用于评估光纤和滤波器的传输和损耗特性。作为系统组件使用时，分析仪只需 1.5 秒即可完成触发、测量和数据输出，极大地提高了系统吞吐量。
波长测量
精度为 ± 0.1 nm 利用内置 He-Ne 激光器作为参考光源，测量波长精度高达 ± 0.1 nm（波长为 1.3 µm）。因此，无需波长校准即可进行精确的波长测量。
最大波长范围 0.05 nm
Q8344A 在短波长（0.85 µm）下的最大分辨率为 0.05 nm，因此可以通过逐个完全解析振荡模式来测量 CD 和可见光激光二极管。
大口径光纤输入（选件） 200 µm 大口径输入可作为选件使用。
在分析波长大于标准光纤口径（GI 50 µm）的设备时，需要使用该选件。对于激光二极管分析，建议使用标准 50 µm 规格，而对于 LED 分析，则建议使用此选配规格。
技术规格
电压和电流：具体的电压和电流规格可能因应用场景和定制需求而异，但通常具有多种电压和频率适配功能，以适应不同地区的电气标准。
耐用性和安全性： 高质量的电源接口板通常由耐用材料制成，并配备保险丝和断路器等安全装置，以确保长期可靠性和稳定性，同时保护设备和用户。
通信功能： 有些电源接口板可能具有通信接口，可让设备与计算机或其他控制系统通信，进行远程监控。
指示灯和显示器： 某些电源接口板可能配有指示灯，用于显示电源状态、连接状态等信息，方便用户进行故障排除和状态监控。
