Advantest Q8341 光学频谱分析仪
高速、高精度测量 LD
高速测量选项： 0.5 s
窄相干测量分辨率：0.001 毫米
十倍以上的高波长精度：±0.01 nm（选项）
高波长分辨率选项： 0.01 nm，波长 650 nm
测量波长范围广： 350 纳米至 1000 纳米
小巧轻便的平台
高通量能力
Q8341 是一款用于可见辐射的光学频谱分析仪，波长范围为 350 nm 至 1000 nm。Q8341 采用带有迈克尔逊干涉仪的傅立叶光谱系统，因此可以测量相干性。Q8341 的窄波长分辨率为 0.01 nm*，不仅对 CD/DVD 激光二极管，而且对蓝紫色激光二极管的评估都非常有效。此外，内置 He-Ne 激光器可作为波长基准，确保 ±0.01nm* 的高波长测量精度。最后，Q8341 具有 0.5 秒*的快速测量速度，是评估系统元件温度特性的理想之选。
相干测量分辨率： 0.001 毫米
波长分辨率（650 纳米）： 峰值波长的测量分辨率为 0.001 nm。
波长测量精度：±0.05 nm（标准），±0.01 nm（选件）
最大输入电平：±10 dBm
最大 相干测量长度： 约 10 毫米（标准），约 40 毫米（选件）
波长测量范围 350 至 1000 纳米
体积小、重量轻
测量原理
Q8341 使用迈克尔逊干涉仪。在这种安排中，来自被测设备的光被分割成两条路径（在两条路径之间产生干涉）。由此产生干涉图。横轴表示两条光路的长度差（即时间或相位）。而纵轴则表示干涉光强度。这就是被测设备的自相关性。对这一函数进行 FFT 处理就能得到功率谱。为此，我们使用 He-Ne 激光器作为波长参考源。
优点
高速测量选项： 0.5 s.
制造/生产环境的理想之选
Q8341 在大约 0.5 秒内即可测量整个跨度。这一特性使 Q8341 成为激光和发光二极管生产线的理想之选。此外，这种快速测量速度也非常适合高产量环境。
主要特点
波长测量范围： Advantest Q8341 的波长测量范围很宽，涵盖了 350nm 到 1000nm 的短波长区域，适用于短波长激光二极管和其他光学设备的测试。
高精度和高分辨率：
波长精度：±0.05nm/±0.01nm，确保测量结果的准确性。
波长分辨率 0.05nm/0.01nm，能够精细分辨光谱中的微小差异。
灵敏度高：输入范围内的灵敏度为 -50 至 +10dBm，能够捕捉微弱的光信号。
测试速度快：测试速度可达 1.5s 或更短，安装高速扫描选件后，测试速度甚至可提高到 0.5s 或更短，大大提高了测试效率。
先进的光学系统： 采用迈克尔逊干涉仪或傅立叶变换干涉仪，可在宽波长范围内提供高精度光谱分析。
