Advantest Q7750 1525 光网络分析仪
产品介绍
近年来，面向实际应用的超高速密集波分复用（DenseWDM）光通信的研究与开发取得了进展。在研发过程中
在此类研究和开发中，光器件和光子系统的振幅特性、波长色散特性和群延迟时间特性是
光器件和光子系统的振幅特性、波长色散特性和群延迟时间特性具有很高的光频分辨率。
此类研究和开发需要以高光频分辨率测量光学设备和光学子系统的振幅特性、波长色散特性和群延迟时间特性、
例如 AWG、光纤光栅、滤波器和色散补偿器。
色散补偿器。波长色散特性是提高光通信比特率的一个障碍。
波长色散特性尤其是提高光通信比特率的障碍，因此需要降低或控制波长色散值。
Q7750 光镜是一款光网络分析仪。
Q7750 光镜可分析光设备的传输、振幅、波长色散和群延迟时间特性。
Q7750 Optoscope（光网络分析仪）在光载波频域测量光器件传输和反射特性的振幅、波长色散和群延迟时间特性。
该系统是前所未有的光传输测量仪器。色散位移光纤，非零色散
还可轻松测量色散位移光纤和非零色散光纤的零色散波长和色散斜率等色散特性。
测量色散位移光纤和非零色散光纤的零色散波长和色散斜率等色散特性。测量方法采用相移法。
采用相移法作为测量方法，可提供高光频分辨率和宽动态范围。
优势
高光学频率分辨率
最高光频分辨率： 50 MHz（波长转换为 0.4 pm）
Q7750 的最高光频轴分辨率为 50 MHz。这就使得以前无法测量的超高分辨率光载波频率测量成为可能。
这使得在光载波频率范围内以超高分辨率进行测量成为可能，而这在以前是无法实现的。
用于密集波分复用（Dense-WDM）和超密集波分复用（Ultra-Dense-WDM）的光学设备的振幅和波长色散特性（通道空间 100 GHz、50 GHz、25 GHz 等）。
Dense-WDM 和 Ultra-Dense-WDM 光学设备的振幅和波长色散特性（通道空间 100 GHz、50 GHz、25 GHz 等）。可配置波长轴
最大波长 70 nm，最小波长约 0.1 nm。
高速测量
测量时间：约 6.7 毫秒（每个测量点）
约 4 秒（每个设定跨度）
一次扫描时间（测量时间）约为 4 秒。传统的几十分钟测量时间可缩短至约 4 秒。
该仪器可将以往需要几十分钟的测量时间缩短至约 4 秒。测量时间过长可能会导致被测设备的特性（如温度）恶化。
被测设备的特性受温度和其他因素的影响，长时间测量无法实现精确测量。
无法进行精确测量。本仪器测量时间短，可进行高速测量，不受被测物温度特性等因素的影响。
测量时间短，不受被测物温度特性等影响，可进行高速、高精度测量。
测量波长范围宽
测量波长范围 1525-1635 纳米
随着长波长光纤放大器的出现，光通信波长范围正在向长波长方向扩展。
Q7750 支持高达 1635 nm 的测量波长。
Q7750 支持高达 1635 nm 的测量波长。这样就能对下一代光通信波长的光学器件进行评估。
Q7750 可用于评估下一代光通信波长的光学器件。
